EV系列光学影像测量仪,具功能强大,最高价格性能比的特点。 EV系列光学影像测量仪采用本公司开发的精密多段倍率,超低变形,远心光学设计的变焦镜头,配上本公司专为光学测量而设计的专用DSP1/2"CCD彩色影像系统,将被测工件的表面纹理清晰细致地显现,轮廓层次分明,精确无误地放大20-125倍作精密测量 EV系列光学影像测量仪以高精度的大理石作机身的支架,配上高精度工作台,X/Y/Z三轴均装有分辨率为0.001mm的精确的光学尺测量系统,X/Y/Z轴的量测精度高达(3+L/200)um。 EV系列光学影像测量仪配备由本公司自行开发,功能强大,使用简单的全功能测量软件,测量结果可以图档DXF格式输出至各类通用的CAD软件,如AUTOCAD,MASTERCAM等等,方便用户使用于抄数应用,相反地,用户也可将DXF格式的图档输入至本公司的测量软件内,作直观测量比较。 EV系列光学影像测量仪配备本公司自行开发,使用简单的SPC统计分析软件,使用户可以轻松对其加工流程进行科学化分析,从而轻易地找出流程中的误差趋势,以及工序中存在的问题。所有测量结果均可输出至通用的办公软件,如EXCEL,WORD等格式,方便用户保存,编制质量检查报告,或作进一步的处理。 |
EV2515 EV3020 EV4030影像仪 影像测量仪参数 |
型号 |
EV-2515 |
EV-3020 |
EV-4030 |
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量测行程X/Y/Z |
250X150X150mm |
300X200X200mm |
400X300X250mm |
外形尺寸 长宽高 |
100X60X40cm |
120X72X160cm |
120X72X160cm |
机身重量 |
170kg |
280kg |
410kg |
重复性 |
2um |
机台承重量 |
30kg |
操作方式 |
手动 |
量测分辨率 |
0.001mm |
X/Y/Z轴 测量精度 |
3+L/200um |
光源系统 |
全电脑程控,USB控制四路上光源,直轴可调下光源 |
平台结构 |
00级花岗石机台及立柱 |
精密测头 选配 |
英国Renishaw高精度接触式精密测头 |
镜头 |
超低变形,多段分辨率远心光学设计镜头Telecetric Lens |
放大倍率 |
光学放大倍率0.7-4.5X,影像放大倍率20X-125X |
标准电脑配置 |
C4/2.4G/256M内存/40G硬盘 17"寸CRT显示器 |
影像系统 |
Easson高解析度CCD影像头1/2"SONY CCD Sensor及支专用DSP |
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